Investigadores de la Universidad Estatal de Carolina del Norte han desarrollado una nueva técnica que les permite evaluar la exposición a la radiación en aproximadamente una hora utilizando un material aislante que se encuentra en la mayoría de los dispositivos electrónicos modernos. La técnica se puede utilizar para clasificar casos médicos en caso de un desastre radiológico.
"Si hay un gran evento radiológico en un área poblada, sería difícil o imposible tratar a todos los que podrían tener síndrome de radiación aguda", dice Robert Hayes, profesor asociado de ingeniería nuclear en NC State y primer autor deun documento sobre el trabajo: "Necesitaría saber quién estuvo expuesto a suficiente radiación para requerir tratamiento".
El enfoque se basa en probar aisladores cristalinos que se encuentran en todo, desde unidades de memoria USB hasta teléfonos inteligentes. Debido a que la técnica es de alto rendimiento, precisa y precisa, puede evaluar adecuadamente la exposición de un individuo en aproximadamente una hora, dice Hayes. Los métodos anteriores pueden tomar semanas.
"Dado que los proveedores de salud tienen una ventana de una a dos semanas para comenzar a tratar a las víctimas del síndrome de radiación aguda, la técnica debería ser suficiente para identificar qué pacientes requieren la atención necesaria", dice Hayes. "No solo podría identificar a las personascasos de síndrome de radiación aguda, pero también ayudan a las autoridades a determinar qué áreas geográficas recibieron la mayor cantidad de radiación.
"Pero no se trata solo de identificar a aquellos que requieren atención", dice Hayes. "Por ejemplo, nuestra técnica podría haber sido útil en un lugar como Fukushima, para tranquilizar a las personas. Es como tener su propio detector de radiación personal."
La técnica requiere que el aislante se retire de su dispositivo electrónico y se limpie. Luego, la muestra se coloca en un lector de luminiscencia estimulado térmicamente, que recoge espectros relacionados con el número de electrones encontrados en los defectos inherentes a la estructura cristalina de la muestra.Los datos espectrales se introducen en un algoritmo personalizado que calcula la exposición a la radiación de la muestra.
"Esta técnica requiere equipo especializado y experiencia, por lo que no es algo que la mayoría de los locales tengan a mano", dice Hayes. "Pero los laboratorios como el mío podrían ejecutar las pruebas y proporcionar a las autoridades buenos datos muy rápidamente. Además de NC State, Sé que hay otro laboratorio con experiencia e infraestructura relevantes en la Universidad Estatal de Oklahoma, y uno en Dinamarca, aunque probablemente haya otros.
"Afortunadamente, esta técnica no será necesaria por mucho tiempo, si alguna vez. Pero creemos que es importante desarrollar estas herramientas antes de que sean necesarias".
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Materiales proporcionado por Universidad Estatal de Carolina del Norte . Nota: El contenido puede ser editado por estilo y longitud.
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